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簡要描述：廣電計量軌道交通電子元器件失效分析是指借助各種測試分析技術和方法確認電子元器件的失效現(xiàn)象，分辨其失效模式和失效機理，確認失效根因，提出設計和工藝改進建議，防止失效的重復出現(xiàn)，提高元器件可靠性的有效手段。
廠商性質：工程商更新時間：2025-10-09訪問次數(shù)：1980詳細介紹
| 品牌 | 廣電計量 | 服務區(qū)域 | 全國 |
|---|---|---|---|
| 服務資質 | CMA/CNAS | 服務費用 | 視具體項目而定 |
| 服務周期 | 常規(guī)5-7個工作日 |
服務范圍
廣電計量軌道交通電子元器件失效分析服務范圍：IGBT、IC集成電路、微機電器件
檢測標準
廣電計量軌道交通電子元器件失效分析檢測標準：GJB548微電子器件試驗方法和程序
檢測項目
（1）常見檢測項?：3DX 射線檢查、聲學掃描檢查、開封、IC 取芯片、芯片去層、襯底檢查、掃描電鏡檢查、PN結染?、DB FIB、熱點檢測、漏電位置檢測、彈坑檢測、粗細撿漏、ESD 測試
（2）常見失效模式分析：靜電損傷、過電損傷、鍵合異常、封裝異常、散熱異常、電參數(shù)漂移
相關資質
CNAS
服務背景
隨著動車及高速列車電控性能的提升，其使用的電子元器件占比越來越高。一方面，為保證動車及高速列車的運行可靠性，需要對所使用的電子元器件進行充分的性能摸底，以熟悉產品性能及預期壽命。另一方面，列車運行過程中一旦出現(xiàn)電子元器件失效，將可造成災難性的損失；而為滿足電子元器件高功率、高負載、高性能的要求，列車上多使用進口集成電路芯片，因檢測手段匱乏、分析方法空白，其失效問題常常受制于國外供應商。
我們的優(yōu)勢
廣電計量通過與華為、海思等國內集成電路芯片廠的深度合作，不斷提高自身芯片類檢測硬件實力及分析軟件實力。具備分析芯片14nm及以上工藝能力，同時可以將問題鎖定在具體芯片層或者um范圍內。
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